测距装置及测距方法与流程

本发明涉及测距装置及测距方法。背景技术：1、在接受来自对象物的反射光并进行测定的装置中，当反射光的强度过强时，受光信号会饱和，并导致测定精度的下降。2、在专利文献1中记载了检测饱和的接收信号的上升沿。在专利文献1的技术中，将第一多项式曲线拟合到包括接收信号的最大样本等的多个样本，判定第一多项式曲线的最大值，将该最大值的规定比例的值定义为中间阈值。然后，判定与中间阈值的大小交叉的第一多项式曲线的点，将与该点接近的接收信号的多个样本作为中间样本。然后，将第二多项式曲线拟合到中间样本。然后，判定第二多项式与中间阈值交叉的点。3、在专利文献2中记载了如下内容：在接收信号饱和的情况下，如果基于接收信号的脉冲宽度参照相关关系，则能够得到信号强度。4、现有技术文献5、专利文献6、专利文献1：日本特表2021-518551号公报7、专利文献2：日本特开2002-22831号公报技术实现思路1、发明要解决的课题2、然而，在专利文献1的技术中，用于检测上升沿的处理负荷较大。另外，专利文献2的技术在受光信号饱和的情况下不能推定峰值位置。3、作为本发明所要解决的问题，作为一例，可列举以较小的处理负荷推定饱和的受光波形的峰值位置。4、用于解决课题的手段5、技术方案1记载的发明是测距装置，其用受光部检测从光源出射并由对象物反射的脉冲光，其中，所述测距装置具备推定部，所述推定部使用由接受到所述脉冲光的所述受光部生成的饱和波形推定该脉冲光的峰值位置，所述饱和波形是在一部分中受光信号饱和的受光波形，所述推定部使用所述饱和波形中的包括饱和的开始点的多个数据点确定假峰值位置，并基于所述饱和波形的饱和宽度确定校正参数，通过使用确定出的所述校正参数校正所述假峰值位置，从而推定该脉冲光的峰值位置。6、技术方案5所述的发明是测距方法，其用受光部检测从光源出射并由对象物反射的脉冲光，其中，所述测距方法包括推定步骤：使用由接受所述脉冲光的所述受光部生成的饱和波形推定该脉冲光的峰值位置，所述饱和波形是在一部分中受光信号饱和的受光波形，在所述推定步骤中，使用所述饱和波形中的包括饱和的开始点的多个数据点确定假峰值位置，基于所述饱和波形的饱和宽度确定校正参数，通过使用确定出的所述校正参数校正所述假峰值位置，从而推定该脉冲光的峰值位置。技术特征：1.测距装置，其用受光部检测从光源出射并由对象物反射的脉冲光，其中，2.根据权利要求1所述的测距装置，其中，3.根据权利要求1或2所述的测距装置，其中，4.根据权利要求1至3中任一项所述的测距装置，其中，5.测距方法，其用受光部检测从光源出射并由对象物反射的脉冲光，其中，技术总结测距装置(10)是用受光部(180)检测从光源(14)出射并由对象物(30)反射的脉冲光的装置。测距装置(10)具备推定部(121)。推定部(121)使用由接受脉冲光的受光部(180)生成的饱和波形推定该脉冲光的峰值位置，所述饱和波形是在一部分中受光信号饱和的受光波形。在此，推定部(121)使用饱和波形中的包括饱和的开始点的多个数据点，确定假峰值位置。另外，推定部(121)基于饱和波形的饱和宽度确定校正参数。然后，推定部(121)通过使用确定出的校正参数校正假峰值位置，从而推定脉冲光的峰值位置。技术研发人员：细井研一郎,宫锅庄悟受保护的技术使用者：日本先锋公司技术研发日：技术公布日：2024/8/16